新方法增强了X射线显微镜检测微小缺陷的能力

X射线显微镜对于检查部件和材料至关重要，因为它们可用于检测材料中的变化和细节。然而，到目前为止，很难在图像中检测到小裂纹或微小夹杂物。

亥姆霍兹赫里昂中心的研究人员开发了一种新方法，使他们能够直观地看到纳米范围内的此类变化。特别是材料研究和质量保证将从这一发展中受益。

质量在材料科学中非常重要。当金属部件焊接在一起时，您需要知道焊缝是否良好，或者内部是否形成了可能导致故障的小裂纹或孔隙。高性能材料(例如电动汽车电池或燃料电池中的电极)不应包含缺陷，并且应允许电流不受干扰地流动。

为了更好地了解材料变化的影响并检测可能的缺陷，人们早已使用 X 射线来可视化材料中的缺陷。在传统的 X 射线图像中，结构是通过 X 射线的衰减而可见的。然而，这通常不足以检测非常小或低密度的结构。

将成像与散射相结合

现如今，来自 Imke Greving 博士研究小组的研究人员 Sami Wirtensohn 和 Silja Flenner 博士利用一种新方法成功地使这种纳米级的微小结构可见。与传统的 X 射线图像不同，他们不使用衰减光本身，而是使用被 X 射线照射的物体散射的光，这些光会偏向不同的方向。

《Optica》杂志上发表的这项研究的第一作者 Wirtensohn 解释说：“纳米级结构(例如微小裂缝)会散射光线，这种散射是可见的。”这使得通常难以或不可能看到的细节和结构变得清晰可见。

“该方法甚至可以使低于 X 射线显微镜分辨率的结构可见，”发起该项目的弗伦纳解释道。

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